聯(lián)系人：張先生
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菲希爾原裝FMP40測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車(chē)及零部件 |
菲希爾原裝FMP40測(cè)厚儀
測(cè)量原理 | 磁性測(cè)厚法，能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量 | 電渦流法測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 |
探頭型號(hào) | FGA1.3磁感應(yīng)探頭 | FTA3.3H電渦流探頭 |
測(cè)量范圍μm | 0 ～ 1500μｍ，測(cè)量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。 | 0 ～ 1 200μｍ。測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% |
重量g | 230 | 230 |
規(guī)格 | (160 x 80 30) | (160 x 80 x 30) |
DualScope FMP40涂層測(cè)厚儀自動(dòng)識(shí)別底材 、能夠通過(guò)外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）、使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）、菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)、電池供電和交流電源(可選件)供電、DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀可以?xún)?chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。、可以?xún)?chǔ)存 20,000 個(gè)讀數(shù)、可以?xún)?chǔ)存 4,000 個(gè)數(shù)據(jù)組、數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息、能夠手動(dòng)糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)、 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息、能夠通過(guò)電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱(chēng)（可選件：MP-Name軟件）、擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值、能夠展現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示、可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值、菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺(jué)和聲音警告
DUALSCOPE FMP40涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
Fischer菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀磁感應(yīng)方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測(cè)量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
菲希爾工廠直銷(xiāo)Fischer菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀電渦流方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。
菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.
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