聯(lián)系人：張先生
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菲希爾xulm-240菲希爾xulm-240 對(duì)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡(jiǎn)化了操作
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小型臺(tái)式化學(xué)鎳鍍層測(cè)試儀Couloscope小型臺(tái)式化學(xué)鎳鍍層測(cè)試儀Couloscope 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu)
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表面涂裝Fischer孔隙率測(cè)試儀 POROSCOPE表面涂裝Fischer孔隙率測(cè)試儀 POROSCOPE POROSCOPE，根據(jù)涂層的破壞強(qiáng)度和厚度設(shè)置合適的測(cè)試電壓。 或者，可以選擇測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)并可以設(shè)置涂層厚度。 然后POROSCOPE自動(dòng)調(diào)整適當(dāng)?shù)母邏骸?/p> 查看詳細(xì)介紹
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德國(guó)菲希爾RMP30-S電路板上銅鍍層測(cè)厚儀德國(guó)菲希爾RMP30-S電路板上銅鍍層測(cè)厚儀 根據(jù)微電阻方法EN14571: 2004，采用微處理器控制的手提式銅箔測(cè)厚儀。德國(guó)FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測(cè)厚儀-------印制電路板銅厚的測(cè)量，
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菲希爾mpo測(cè)厚儀菲希爾mpo —在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡(jiǎn)便高精度測(cè)量涂鍍層厚度的理想選擇。 DualScope MP0儀器內(nèi)置探頭，采用磁感應(yīng)及電渦流方法，可以輕松、快速,無(wú)損地測(cè)量涂層厚度。
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