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Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀 COULOSCOPE CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
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Couloscope CMS2電位差臺(tái)式測(cè)厚儀*現(xiàn)貨
Couloscope CMS2電位差臺(tái)式測(cè)厚儀*現(xiàn)貨 CouloScope CMS（庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。新的設(shè)計(jì)中配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過(guò)泵控制自動(dòng)注液和清空測(cè)量槽的V18測(cè)量臺(tái)，以及SPC統(tǒng)計(jì)能力。該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
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德國(guó)進(jìn)口DualScope FMP150霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀德國(guó)進(jìn)口DualScope FMP150霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀 DualScope FMP150進(jìn)一步配備了第三種測(cè)量原理，即磁性法。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測(cè)量涂鍍層厚度外，還可以測(cè)量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。
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現(xiàn)貨DualScope FMP100測(cè)厚儀功能升級(jí)款現(xiàn)貨DualScope FMP100測(cè)厚儀功能升級(jí)款 DUALSCOPE FMP100涂層測(cè)厚儀自動(dòng)識(shí)別基材，將兩種測(cè)量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行測(cè)
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德國(guó)DeltaScope FMP30測(cè)厚儀磁感應(yīng)加強(qiáng)款德國(guó)DeltaScope FMP30測(cè)厚儀磁感應(yīng)加強(qiáng)款 DELTASCOPE FMP30用于測(cè)量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。ISOSCOPE FMP30用于測(cè)量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度；用于測(cè)量鋁基材上陽(yáng)極氧化層的厚度，也用于測(cè)量導(dǎo)電層在非導(dǎo)電基材上的厚度。
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