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菲希爾X熒光射線測厚儀XDL簡介
點擊次數(shù)：317 更新時間：2025-05-02 打印本頁面 返回
德國FISCHER X-RAY XDL230
菲希爾X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產(chǎn)品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行測量和分析。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?/p>
